半导体检测

半导体检测

硅在短波红外

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太阳能设备检测

太阳能电池检测

短波红外相机在太阳电池检测上的应用

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工业检测

材料分选

短波红外（SWIR，通常指 0.9–2.5 μm）在工业检测中扮演着“工业医生”的角色。它最大的价值在于能“看透”可见光无法分辨的内部缺陷、水分含量和材料成分，是一种非接触、非破坏性的精密检测手段。

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搜索救援

搜救“超能力”

短波红外为搜救工作提供了“穿透之眼”和“成分之眼”。它不仅是夜视仪，更是能在烟雾、尘埃和植被中，通过探测水分和材料来发现并确认生命存在的关键技术。随着新型成像器走向成熟，SWIR设备将变得更轻、更便宜、更智能，成为未来标准搜救装备的核心。

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